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粗晶薄带材样品的织构测试

王颖 , 胡小军 , 李丽敏

物理测试

通常晶粒较大的样品无法采用常规X—ray衍射方法进行织构测试分析。针对粗晶薄带材样品，利用多片样品的侧面构造一个测试表面，从该组合面测得不完全极图并通过ODF计算和ODF转换计算的方法得到样品的晶粒取向信息，结果表明这种方法可以较好地解决粗晶薄带材样品的织构测试问题。

关键词: 织构 , 极图测试 , 取向分布函数 , 粗晶薄带材 , X射线衍射