欢迎登录材料期刊网
王颖,胡小军,李丽敏
物理测试
通常晶粒较大的样品无法采用常规X-ray衍射方法进行织构测试分析。针对粗晶薄带材样品,利用多片样品的侧面构造一个测试表面,从该组合面测得不完全极图并通过ODF计算和ODF转换计算的方法得到样品的晶粒取向信息,结果表明这种方法可以较好地解决粗晶薄带材样品的织构测试问题。
关键词: 织构 , pole figure , ODF , thin tape with coarse grains , X-ray diffraction