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霉菌对裸铜和镀金处理的印制电路板腐蚀行为的影响

邹士文 , 李晓刚 , 董超芳 , 李慧艳 , 肖葵

金属学报 doi:10.3724/SP.J.1037.2012.00033

采用扫描Kelvin探针测试技术研究了裸铜印制电路板(PCB--Cu)和无电镀镍金处理印制电路板(PCB-ENIG)在霉菌作用下的腐蚀行为, 通过体视学显微镜、扫描电镜和能谱分析对PCB的腐蚀和霉菌生长情况进行了观察和分析. 结果表明, 在湿热环境下霉菌在2种材料表面均能良好生长并且数量逐渐增加, 28 d完成一个生长代谢周期且分生孢子活性良好; 84 d后试样表面都出现了腐蚀产物, PCB--ENIG腐蚀更为严重. 霉菌的生长代谢作用在一定程度上能抑制PCB--Cu表面霉菌生长区域的腐蚀, 但是对PCB--ENIG的微孔腐蚀起促进作用.

关键词: 霉菌 , printed circuit board , scanning Kelvin probe , copper

Q235钢/NaCl液滴界面微区电化学特征参数分布特征

唐晓 , 王佳

腐蚀学报(英文)

本文采用扫描Kelvin探针、扫描振动电极等方法表征了NaCl液滴覆盖下Q235钢表面的微区电化学参数分布的特征.结果证实,NaCl液滴下碳钢表面的电位分布和电流密度分布是不均匀的,中心为阳极区,边缘为阴极区.液滴中心和边缘阴阳极电位相差04 V,阴阳极电流密度相差09 μA/cm2.NaCl液滴下碳钢表面电化学参数的不均匀分布导致液滴边缘发生强烈的阴极极化,导致附近区域碱性化是微液滴形成的主要原因.

关键词: 大气腐蚀 , micro-droplet , scanning Kelvin probe , scanning vibrating electrode , micro electrochemistry

霉菌环境下喷锡处理印制电路板的腐蚀行为

邹士文 , 肖葵 , 董超芳 , 李慧艳 , 李晓刚

中国有色金属学报

采用扫描Kelvin探针测试技术研究喷锡处理(Hot air solder level,HASL)印制电路板(Printed circuit board, PCB)在霉菌环境下的腐蚀行为;采用通过体视学显微镜、扫描电镜和能谱分析对印制电路板的霉菌生长和腐蚀情况进行观察和分析.扫描电镜和能谱结果表明,在湿热环境下,绳状青霉在喷锡处理 PCB 表面具有优先生长特性,表现为簇状菌丝体交织覆盖.PCB表面腐蚀产物脱落,出现漏铜现象.扫描Kelvin探针结果分析表明,喷锡处理PCB表面霉菌菌落区域作为腐蚀电池的阴极受到保护,而菌落边缘区域作为阳极发生腐蚀;扫描Kelvin探针测试技术可以用来表征霉菌环境下的印制电路板腐蚀行为,表征微区电极反应类型和腐蚀进程.

关键词: 印制电路板 , 霉菌 , 腐蚀行为 , 扫描Kelvin探针 , 喷锡处理

扫描 Kelvin 探针表面电位特征参数在有机涂层劣化研究中的应用

赵增元 , 吕伟艳 , 马永青 , 张有慧 , 孔爱民 , 朱玉婷

腐蚀与防护

为了研究扫描 Kelvin 探针表面电位技术在有机涂层劣化研究中的应用并选择合理的评价特征参数,结合使用电化学阻抗谱 EIS 和扫描 Kelvin 探针(SKP)技术研究了有机涂层在3.5% NaCl 溶液中的劣化过程,分析了有机涂层劣化过程中扫描 Kelvin 探针表面电位分布数特征参数Vmin、Vmax-Vmin的变化规律,并首次提出了表面电位梯度最大值 gradmax这个特征参数。结果证明,扫描 Kelvin 探针特征参数 gradmax、Vmin ,Vmax-Vmin和电化学阻抗谱具有很好的相关性,扫描 Kelvin 探针特征参数能够很好地用来评价有机涂层劣化,表面电位梯度最大值 gradmax可以用来研究有机涂层下金属腐蚀发生的趋势和速度。

关键词: 有机涂层 , 扫描 Kelvin 探针(SKP) , 表面电位特征参数 , 表面电位梯度

羟烷基酰胺固化聚酯粉末涂层在海洋环境中的腐蚀行为

周和荣 , 姚望 , 宋述鹏 , 吴润

材料工程 doi:10.11868/j.issn.1001-4381.2016.000559

采用CASS实验、浸泡实验、交流阻抗和扫描开尔文研究羟烷基酰胺固化聚酯粉末涂层缺陷在海洋环境中的腐蚀行为和机制.结果表明:羟烷基酰胺固化聚酯粉末涂层经240h CASS实验后划痕边沿有少量起泡,最大单边腐蚀宽度小于0.5mm,表面附着力为0级;EIS图谱显示涂层下铝合金在0.6mol/L NaCl溶液中的腐蚀速率随浸泡时间的延长不断降低并逐渐趋于稳定;扫描开尔文图谱显示聚酯粉末涂层下金属的腐蚀沿划痕处不断向涂层两侧扩散,其阳极和阴极交替变化,导致涂层下腐蚀面积扩大.

关键词: 羟烷基酰胺 , 粉末涂层 , CASS实验 , 交流阻抗 , 扫描开尔文

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