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王艳文 , 胡保付 , 胡艳春 , 路庆凤
低温物理学报
我们在室温下对La2-xBaxCuO4（x=0．05，0．1，0．125，0．15，0．2）超导系列样品的正电子寿命谱（PAT）进行了测量，分析了正电子湮没机制与超导转变温度之间的关联，并从电子密度转移方面对La2-xBaxCuO4超导样品的转变温度被抑制的原因进行了解释．
关键词: 1/8反常现象 , 正电子寿命谱 , 超导电性
