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王喜忠 , 王亮忠 , 汪悦 , 王振清
物理测试
基于STC89C52和Atmel89C4051的双芯片系统，通过测试材料在不同温度下和不同振动情况下的自由衰减曲线，经数值处理得到材料的动态力学性能。实验过程实现了计算机对设备的控制和数据采集，经处理可以获得材料在全温度范围内的损耗、弹性模量和损耗模量等。本系统易操纵，自动化程度高，设备体积小。
关键词: 双芯片系统 , DMTA , numerical test and control system
