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张营堂 , 闫欠
无机材料学报 doi:10.15541/jim20150023
本研究采用流延法制备Ba(Zr0.15Ti0.85)O3(BZT)厚膜样品.采用扫描电子显微镜分析样品形貌;采用LCR测试仪和Sawyer-Tower电路法测量样品的介电与铁电性能.结果表明,BZT厚膜具有明显的介电弛豫特征,击穿电场强度可达60 kV/cm以上,饱和极化强度可达58.1 μC/cm2,剩余极化强度(Pr)为20.9μC/cm2.
关键词: BZT , 厚膜 , 介电弛豫