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PWM脉冲电压下变频电机匝间绝缘研究

朱勇穗 , 宋桂霞 , 张敬龙 , 姚建荣 , 王健

绝缘材料

定子绕组匝间绝缘失效是导致变频电机损坏的主要原因。以湘电1650 V变频电机匝间绝缘结构为研究对象,对匝间绝缘用FMB-40线对和耐电晕FCRMB-40线对进行高频方波脉冲老化试验,分析两者老化前后介质损耗与局部放电的变化。结果表明:施加幅值2.0 kV、频率20 kHz的方波脉冲电压老化1000 h后,两种结构都通过了老化试验。其中耐电晕FCRMB-40线对的表现较优,用于1650 V变频电机匝间绝缘具有更佳的电气可靠性。

关键词: 匝间绝缘 , 耐电晕 , 介质损耗 , 局部放电 , 老化

浅析绝缘材料耐电晕寿命评定的影响因素

宋玉侠 , 罗传勇 , 钱三来 , 武红敏 , 曹任品

绝缘材料 doi:10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2016.04.014

通过调整高频脉冲绝缘测试仪的电极系统、脉冲电压幅值及上升时间,定量定性的分析了各因素对耐电晕绝缘材料耐电晕寿命的影响.结果表明:绝缘材料的耐电晕寿命随脉冲上升时间增加而增加,随脉冲电压幅值的增加而呈指数型降低;尽量统一高频脉冲绝缘测试仪的波形、脉冲电压幅值及上升时间等试验参数,可减少设备之间测试结果的差异.同时指出了在测试中需要注意的问题.

关键词: 绝缘材料 , 耐电晕 , 寿命评定 , 脉冲电压

聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线耐电晕性能的研究

刘佳音 , 唐文进 , 周升 , 杨名波 , 陈琛

绝缘材料

通过对聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的工艺研究,分析了聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的耐电晕性能。结果表明:影响聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线耐电晕性能的主要因素为烧结温度、绕包张力和红外辐射炉温度。当烧结温度为230℃,绕包张力为8 N,红外辐射炉温度为450℃时,聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的耐电晕性能最佳。

关键词: 电磁线 , 烧结工艺 , 耐电晕性能

纳米氧化硅改性聚酰亚胺薄膜的制备与性能研究

廖波 , 张步峰 , 王文进 , 田苗 , 周升

绝缘材料

使用共混法制备了纳米SiO2/聚酰亚胺复合薄膜,研究了纳米SiO2添加量对该复合薄膜力学性能、电气强度以及耐电晕性能的影响,并讨论了树脂体系的固含量对该复合薄膜耐电晕性能的影响。结果表明:随着SiO2添加量的增大,薄膜的拉伸强度变化不大,但断裂伸长率下降明显,电气强度先升高后降低,SiO2含量为6%时电气强度达到最大值,耐电晕性能提高。随着树脂固含量的增大,薄膜的耐电晕性能也随之提高,最佳树脂固含量为19%。

关键词: 耐电晕 , 聚酰亚胺薄膜 , 纳米氧化硅

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