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基本参数法X-射线荧光光谱同时分析镍、钴和铁基合金

冶金分析

用基本参数法分析了镍、钴和铁基合金,对每种元素在整个含量范围内用单一校准进行了测定,并获得了满意的结果.研究显示,本方法可以采用多通道光谱仪对主次元素进行分析测定.例如,对镍元素来说,在质量分数0%到100%的浓度范围内,准确度达到质量分数0.14%.我们还发现,在铬的分析中,三级激发很显著,对整体强度的贡献率达到2.4%.通过将三级激发考虑进理论强度计算,方法的准确度可由质量分数0.14%提高到0.10%.对灵敏度进行了最小二乘拟合法校准,研究显示二次拟合多项式用单一校准曲线在整个浓度范围内都能给出很好的结果.在多通道光谱仪中,当通道不再适合谱线重叠时,理论强度重叠校正法是有效的手段.

关键词: , , , 合金 , 基本参数法 , X-射线荧光光谱法

X-射线荧光光谱法测定二氧化钛微量元素标样的制备与探讨

李化全 , 郭传华

涂料工业

测定二氧化钛中微量元素的过程中,大多采用X射线荧光光谱法(XRF),同时在国家没有标准物质的前提下,都采用加入法建立仪器标线,从而容易造成元素状态与实际样品间存在差别,如何建立二氧化钛中微量元素的测量的标样应该是业内的一个关键课题,本研究旨在从仪器理论和标样制备方面阐述其机理,以促进二氧化钛质量的提高和行业进步.

关键词: X-射线荧光光谱法 , 二氧化钛 , 标准样品 , 元素 , 测定

X-射线荧光光谱法测定硅石中主次成分

蒋晓光 , 林忠 , 李卫刚

冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2008.10.008

采用硅石标准样品及其复配标准样品作为校准样品,建立了熔融制样X-射线荧光光谱法测定硅石中SiO2,Fe2O3,Al2O3,CaO,MgO,K2O,TiO2,MnO,P2O5主次成分的方法.采用熔融法为试料片和校准片的制备方法,通过试验选择四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔荆(12:22,m/m)为助熔剂、1.00 mLz LiBr溶液为脱模剂、稀释比为1:20、熔融时间30 min.采用可变理论α系数对基体效应进行校正.对同一硅石样品进行测定的相对标准偏差(RSD)小于8%,对不同硅石样品进行测定,本法的测定结果与标准方法的测定结果相吻合,偏差在允许范围内,t检验合格.

关键词: 硅石 , X-射线荧光光谱法 , 主次成分 , 熔融制样

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