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镁砂的粉末直接压片法X荧光光谱分析

苗国玉 , 杜建民 , 董中华

冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2001.01.019

采用粉末样品直接压片法，通过基体校正等手段，建立了优质镁砂X射线荧光分析方法。该方法快速、准确、成本低。

关键词: 镁砂 , 粉末压块 , X荧光