胡吉明
,
吴继勋
,
孟惠民
,
张抒洁
,
杨德钧
材料保护
doi:10.3969/j.issn.1001-1560.2000.04.022
对传统热解法制得的Ti基IrO2+Ta2O5涂层进行了X射线能谱(EDX)及X射线衍射(XRD)测试分析.结果表明,涂层中Cl元素的含量随温度上升而降低,至500 ℃后已降为较低数值(2%),此温度下Ir组元几乎以IrO2晶体相存在.Ti基金属的热重分析(TGA)表明,500 ℃下经4 h预氧化后,该基体金属已不再氧化增重.结合涂层EDX、XRD及Ti基TGA测试结果,确定了X射线荧光分析(XRF)用标准试样的制备条件,并同时测定了不同成分及温度所得IrO2+Ta2O5涂层中两种氧化物的附着量,其成分比例与名义值较为吻合.
关键词:
Ti阳极涂层
,
IrO2
,
Ta2O5
,
X射线荧光分析
杨明太
,
吴伦强
,
杨光文
,
高戈
,
余春荣
稀有金属材料与工程
介绍了用波长色散X射线荧光(WDXRF)法测定Zr-Nb合金中Nb含量的分析方法.该方法将样品溶解,加载于滤纸片上,制成滤纸试样片,用X射线荧光光谱仪测定试样片中Nb含量.该方法简便、快速、准确,对Nb质量分数在1.0%～8.0%的Zr-Nb合金样品,测量结果的相对标准偏差(RST)不大于0.8%(n=6).
关键词:
X射线荧光分析
,
Zr-Nb合金
,
Nb含量
杨明太
,
高戈
,
陈锦华
,
齐红莲
稀有金属材料与工程
叙述了用能量色散X射线荧光法(EDXRF)同时测定氧化物陶瓷材料组分的分析方法.该方法对样品无损,可直接测定ZrO2+Y2O3,ZrO2+CaO,ZrO2+Y2O3+CaO3种陶瓷材料中的CaO,Y2O3和ZrO2;该方法快速、简便、可适用于粉末混合料和经高温烧结后的上述3种陶瓷材料;测定各组分的含量范围为:2%～25%的CaO,1.5%～20%的Y2O3,70%～98%的ZrO2,测定CaO和Y2O3的相对标准偏差好于2%,测定ZrO2的相对标准偏差好于1%.
关键词:
陶瓷材料
,
氧化物组分
,
X射线荧光分析
