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CdZnTe单晶的机械抛光及其表面损伤层的测定

查钢强 , 介万奇 , 李强 , 刘永勤

功能材料

研究了CdZnTe单晶片的机械抛光工艺.采用SiO2和MgO进行分步机械抛光后的晶片光亮平整,在光学显微镜下观察没有划伤,采用New View5000TM测得抛光后晶片的表面粗糙度Ra为8.752nm.采用X射线摇摆曲线的半峰宽表征了表面损伤程度.通过分析不同时间腐蚀后晶片的质量和半峰宽值,计算出机械抛光产生的表面损伤层厚度约为26.7μm.

关键词: CdZnTe , 机械抛光 , X射线摇摆曲线 , 表面损伤层

ZnGeP2多晶料合成与晶体生长

林彦霆 , 顾庆天 , 刘宏 , 张怀金 , 葛文伟 , 房昌水 , 胡小波 , 王继扬

功能材料

以99.999%的锌、锗和红磷为原料通过直接化合的方法合成ZnGeP2多晶料,采用布里奇曼法通过自发成核方式生长出尺寸为Ф7mm×25mm的ZnGeP2晶体.X射线粉末衍射实验表明合成的多晶料的成分是ZnGeP2,所获ZnGeP2晶体的结构属于四方晶系,空间群I42d.X射线摇摆曲线表明所得晶体完整性较好.用莫氏硬度计测得ZnGeP2晶体的莫氏硬度为6.5.测量了晶体的热重和差热曲线,证明在室温~800℃的范围内晶体热学性质稳定.

关键词: ZnGeP2 , X射线粉末衍射 , X射线摇摆曲线 , 热学性质

Micro-Raman光谱鉴定碳化硅单晶的多型结构

王丽 , 胡小波 , 董捷 , 李娟 , 姜守振 , 李现祥 , 徐现刚 , 王继扬 , 蒋民华

功能材料

利用激光拉曼光谱仪测量了SiC单晶中不同多型的显微Raman光谱.在Raman光谱中,最大强度的FTA模和FTO模应出现在其简约波矢x等于该多型的六角度h处,据此对4H-SiC单晶中的多型进行了鉴定.同时采用高分辨X射线衍射测量了该晶片不同区域的摇摆曲线,将不同多型体的计算衍射角与实验值加以比较,对SiC晶片中的多型进行了标注,所得结论与激光Raman光谱测定结果相一致,说明Raman光谱是一种简单、快速地鉴定多型结构的强有力的工具.实验结果表明,在升华法生长4H-SiC单晶过程中,容易出现寄生6H、15R多型同4H多型的竞争生长,简单分析了寄生多型产生的原因.

关键词: 显微激光Raman光谱 , X射线摇摆曲线 , SiC单晶 , 多型鉴定

等离子体增强分子束外延生长ZnO薄膜及光电特性的研究

梁红伟 , 吕有明 , 申德振 , 颜建锋 , 刘益春 , 李炳辉 , 赵东旭 , 张吉英 , 范希武

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2003.06.008

利用等离子体辅助分子束外延设备(P-MBE)在蓝宝石(Al2O3)衬底上外延生长ZnO薄膜,研究了不同生长温度对结晶质量的影响.随着生长温度的升高,X射线摇摆曲线(XRC)半高宽从0.88°变窄至 0.29°,从原子力显微镜(AFM)图像中发现薄膜中晶粒从20nm左右增大至200nm,室温光致发光(PL)谱中显示了一个近带边的紫外光发射(UVE)和一个与深中心有关的可见光发射.随着生长温度升高,可见光发射逐渐变弱,薄膜的室温载流子浓度由1.06×1019/cm3减少到7.66×1016/cm3,表明在高温下生长的薄膜中锌氧化学计量比趋于平衡,高质量的ZnO薄膜被获得.通过测量变温光谱,证实所有样品在室温下PL谱中紫外发光都来自于自由激子发射;随着生长温度的变化UVE峰位蓝移与晶粒尺寸不同引起的量子限域效应相关.

关键词: ZnO薄膜 , 等离子体增强分子束外延 , 光致发光 , 量子限域效应 , X射线摇摆曲线

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