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沉积和退火温度对多晶ZnO薄膜结构特性的影响

李荣花

材料热处理学报 doi:10.3969/j.issn.1009-6264.2006.06.011

采用RF反应溅射法在Si(111)衬底上制备出了沿C轴高度取向的多晶ZnO薄膜.通过对ZnO薄膜的X射线衍射(XRD)分析,研究了沉积温度及退火对多晶ZnO薄膜取向性、晶粒大小和应力的影响.结果表明,衬底温度和退火温度对多晶ZnO薄膜的晶体结构影响显著.适当的提高衬底温度或适当的增加退火温度都能有效地改善ZnO薄膜的结构特性,但增加退火温度更有优势.同时原子力显微镜观察表明,退火能有效地降低ZnO薄膜的表面粗糙程度.

关键词: 多晶ZnO薄膜 , RF反应溅射 , 退火 , 结构特性

RF反应溅射法制备NiFe/Al2O3/Co磁性隧道结研究

张万里 , 彭斌 , 唐晓莉 , 蒋洪川 , 张怀武

功能材料

采用RF反应溅射法制备了室温下TMR值达6.5%的NiFe/Al2O3/Co磁性隧道结.样品制备采用一系列的掩模,Al2O3层的制备采用RF反应溅射并原位热氧化方法,隧道结的面积为0.2mm×0.2mm.样品的Ⅰ-Ⅴ特性曲线说明了样品中隧道效应的存在,利用XPS分析了样品界面特性及样品成分随膜厚的变化.

关键词: 磁性隧道结 , RF反应溅射 , 隧道磁电阻

沉积条件对RF反应溅射多晶ZnO薄膜结构的影响

龚恒翔 , 阎志军 , 杨映虎 , 王印月

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2000.04.033

采用RF反应溅射法在Si(111)、玻璃衬底上制备了具有良好C轴取向的多晶ZnO薄膜.用XRD分析了沉积条件(衬底温度、工作气体中的氧与氩气压比和衬底种类)对样品结构的影响.发现(1)薄膜的取向性随着衬底温度的升高而增强,超过400℃后薄膜质量开始变差;(2)工作气体中氧与氩气压比(PO2/PAr)为2:3时,薄膜取向性最好;(3)薄膜晶粒尺寸11~34nm,相同沉积条件下,单晶硅衬底样品(002)衍射峰强度减弱,半高宽无明显变化.

关键词: ZnO薄膜 , RF反应溅射 , 择优取向

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