郭鹏
,
彭林志
,
张为海
,
刘雷
,
熊娟
无机材料学报
doi:10.15541/jim20150173
采用水热合成和低温煅烧两步法工艺制备了不同浓度(0～1.5m01％)镨掺杂锡酸镁,通过X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)及荧光光谱仪对合成的样品进行表征,研究了Pr掺杂量对锡酸镁微观形貌的影响,并讨论了其光致发光性能.结果表明,所制备的Mg2SnO4∶ Pr3+为立方反尖晶石结构的立方纳米颗粒;与未掺杂的Mg2SnO4相比,Pr掺杂浓度的增加使颗粒尺寸变大,并使颗粒边角锐化.不同浓度Mg2SnO4∶ pr3+的发射光谱表明Mg2SnO4∶ Pr3+样品中存在530、570 nm两处发射峰,前者与Mg2SnO4基质中的氧空位有关,后者由Pr元素3p0-3H5能级的跃迁造成.随着Pr掺杂浓度增加,锡酸镁颗粒尺寸变大、发光中心增多,使得Pr掺杂锡酸镁纳米颗粒在570 nm处的发光强度增强.
关键词:
锡酸镁
,
纳米颗粒
,
Pr掺杂
,
光致发光
