张晶
,
陈思博
,
孙洋
,
张志东
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20173203.0196
基于Landau-de Gennes理论,利用松弛迭代法,研究了电场对垂直排列(VA)液晶薄盒和反扭曲向列相(ITN)液晶薄盒的影响.两系统在相同条件下的倾角变化相同,且系统双轴性与本征值的变化只取决于倾角的变化.研究表明,当盒厚大于一定临界值时,液晶系统一直处于正序参数态,此时ITN 薄盒的扭曲角由线性排列逐渐变化到呈45°角排列;当小于此临界盒厚时,在一定电压下会出现负序参数单轴态,此时ITN薄盒的扭曲角会偏离线性变化出现回滞.
关键词:
Landau-Gennes理论
,
负序参数单轴态
,
本征值交换
,
临界盒厚
