张琳
,
刘慧慧
,
刘林佳
,
赵国庆
,
吴艳
,
闵光辉
无机材料学报
doi:10.15541/jim20160464
利用直流磁控溅射的方法制备掺La和未掺La的Ca1-xLaxB6(x=0,0.01,0.02,0.03)薄膜.利用原子力显微镜对薄膜的表面形貌及厚度进行表征.掺La的薄膜的厚度约为未掺杂的两倍;La的掺杂会使薄膜的晶粒尺寸变大.利用X射线光电子能谱对薄膜表面的化学组成进行检测.薄膜中Ca/La比接近理论值,没有检测到其它的铁磁性杂质及元素,尤其是Fe.Ca0.98La0.02B6薄膜具有最大的室温饱和磁化强度,强度值为84.54 emu/cm3.同时薄膜的饱和磁化强度值随薄膜厚度的增加而降低.在Ca1-xLaxB6薄膜中,B6空位是薄膜磁性的主要来源,其它类型的缺陷例如晶界等,同样影响着薄膜磁性的大小.
关键词:
CaB6
,
薄膜
,
La掺杂量
,
磁性