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Lu2Si2O7:Ce闪烁晶体的生长与宏观缺陷研究

李焕英 , 秦来顺 , 陆晟 , 任国浩

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2006.03.003

用提拉法生长了Lu2Si2O7:Ce晶体,讨论了晶体生长过程中的几个问题:(1)熔体挥发;(2)晶体开裂;(3)层状包裹.生长过程中LPS和SiO2均存在挥发,其中后者占主导;LPS挥发不会造成组分偏析,因此对生长过程没有负面的影响.接种温度偏低导致晶体出现多晶化和晶体中较大的热应力是促使开裂发生的主要原因.层状包裹现象的出现主要是由于该晶体的结晶温度范围狭窄,熔体容易出现组分过冷,以及生长设备的温控系统精度不高等造成的.

关键词: 闪烁晶体 , LPS:Ce晶体 , 缺陷 , 包裹物

退火对提拉法生长Lu2Si2O7:Ce晶体闪烁性能的影响

冯鹤 , 丁栋舟 , 李焕英 , 陆晟 , 潘尚可 , 陈晓峰 , 张卫东 , 任国浩

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2009.01054

Lu2Si2O7:Ce (LPS:Ce)表现出较高的光输出,平均值约26000photons/MeV (简写为ph/MeV),但通过提拉法获得的晶体发光效率很低. 实验对LPS:Ce晶体进行了不同气氛下的退火,研究退火条件对LPS:Ce的发光效率等闪烁性能的影响. 发现在Ar气氛下退火对LPS:Ce发光效率的提高没有作用,在空气气氛下退火后可显著提高LPS:Ce的发光效率. 通过不同退火工艺的比较,确定了提高LPS:Ce发光效率的最佳退火制度:空气气氛下,退火温度1400℃,退火时间根据样品的大小决定,样品越大,需要的退火时间越长. 同时讨论了退火过程中,LPS:Ce吸收谱和UV-ray激发发射谱的变化趋势.

关键词: LPS:Ce晶体 , 退火制度 , 发光效率 , 吸收谱 , 发射光谱

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