孙国柱
,
吴培亨
,
王颖
,
吉争鸣
,
包慧玲
,
康琳
,
许伟伟
,
陈健
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2006.03.004
本工作提出了一种通过对时间的测量来获得单个Josephson结的跳变电流统计分布P(I)的电路,该电路具有很好的精度和速度.利用该电路我们首次从4.2K到30mK的不同温度下,对NbN/AlN/AbN结和Nb/AlOx/Nb结的跳变电流统计分布进行了测量,得到了一系列P(I).在一定的温度范围内,P(I)和理论值符合的很好.该电路结合其他的实验手段,将在今后研究Josephson结其他物理性质(例如Rabi振荡)中发挥很好的作用.
关键词:
Josephson结跳变电流
,
统计分布
,
超导量子比特
