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基于 FIB-SID 技术的三维金属无源电感制备与测试

毛逸飞 , 王志强 , 赵路睿 , 吴文刚 , 徐军

中国材料进展 doi:10.7502/j.issn.1674-3962.2013.12.05

重点研究了聚焦离子束的相关原理和应用。利用聚焦离子束应力引入致形变( Focused Ion Beam Stress-Introduced De-formation, FIB-SID)技术与常规微加工工艺相结合,制备微型金属无源螺旋电感的设计方法和工艺流程,并对其电学性能进行初步高频测试。首先在SOI( Silicon-on-Insulator)基片上通过光刻、溅射以及各项同性刻蚀等常规工艺制得悬浮的金属悬臂梁,再利用FIB刻蚀原理进行应力引入,通过控制注入离子剂量、 FIB应力引入的次数、 FIB扫描的间距等试验参数制得不同尺寸结构的三维螺旋金属无源电感。最后,采用安捷伦网络分析仪与微波探针台,使用GSG结构及相应的去嵌方法,对微型金属螺线管电感进行了高频测试。得出了三维螺旋微纳电感的电感值、品质因子、电压驻波比、回波损耗随频率变化关系。

关键词: FIB-SID , 微型金属无源螺旋电感 , 高频测试

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