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DCSQUID磁通检测系统仿真研究

李利城 , 官伯然

低温物理学报

为了便于对DCSQUID及其应用电路进行分析,在Wrspice中建立了DcSQUID的电路仿真模型,并与经典文献进行了比对验证.与通过数值方法求解系统微分方程的计算过程相比,本模型更为方便、直观.文章首先简述了IX;SQUID磁通检测系统的检测原理,然后在Wrspice中建立了DCSQUID磁通检测系统的磁通锁定环电路模型,进而仿真得到了磁通锁定环积分器输出电压随外加磁通量的响应.本文结果有助于实现DCSQUID电路的系统级仿真,为参数优化提供依据,具有一定的参考价值.

关键词: 磁通检测 , DC , SQUID , 仿真 , Wrspice

不同电源等电位离子钨钼共渗的研究

申罡 , 高原 , 王成磊 , 卜根涛

材料导报

利用脉冲单电源和直流单电源,分别在Q235钢表面进行等离子钨钼共渗.通过对不同电源钨钼共渗试样的渗层组织、渗层成分分布、晶体结构、渗层硬度分布的检测和比较,分析了2种电源对等离子钨钼共渗的影响.结果表明,利用单一电源均可在Q235钢表面形成明显反应扩散层;在相同工艺下,采用脉冲电源所得到的试样渗层厚度较采用直流电源的渗层厚度增加了18.1%;脉冲电源试样表面W、Mo含量(质量分数,下同)分别约为8.4%和9.8%,直流电源试样表面W、Mo含量分别为8.2%和8.9%,可见2种电源渗层表面含W、Mo量相差不大;2种电源渗层相结构均为Fe_7W_6和Fe_3Mo金属间化合物相;钨钼共渗后渗层硬度提高不明显.

关键词: 脉冲 , 直流 , 双辉 , 表面改性 , 钨钼共渗

聚四氟乙烯直流沿面闪络及表面特性的实验研究

胡志亮 , 王涛 , 赵一名 , 谢庆 , 黄河 , 王兵

绝缘材料 doi:10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2016.05.012

为提高绝缘材料的耐沿面闪络能力,对聚四氟乙烯在指形电极下的沿面绝缘特性及沿面闪络前后材料表面的物化特性进行研究.测量了不同放电距离下的沿面闪络电压,并采用原子力显微镜和X射线光电子能谱仪分析闪络前后聚四氟乙烯表面形貌、表面粗糙度、表面化学成分的变化.结果表明:随着电极间距的增大,沿面闪络电压升高,闪络场强降低;随着闪络时间的增长,材料表面的凸起变大、变平,表面粗糙度增大,表面发生显著的物理变化;在沿面闪络过程中,材料表面化学基团发生变化,表面水接触角下降.

关键词: 聚四氟乙烯 , 直流 , 沿面闪络特性 , 表面特性

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