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CuO/SiO2复合薄膜的微观结构和发光特性分析

石锋 , 李玉国 , 孙钦军

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2009.00234

采用射频磁控共溅射法在硅衬底上沉积Cu/SiO2 复合薄膜,然后在N2保护下高温退火,再于空气中自然冷却氧化,制备出低维CuO纳米结构,并对其微观结构和光致发光进行研究.退火温度为1100℃时样品中主晶相为立方晶系的CuO(200)晶面,薄膜样品表面出现纳米线状结构,表面组分主要包括Cu、O元素,冷却氧化形成CuO/SiO2复合薄膜.该温度下退火后,光致发光谱中出现紫外光和紫光,这是由于复合薄膜中CuO的导带底到Cu空穴缺陷能级的跃迁导致的.

关键词: 射频磁控共溅射法 , CuO/SiO2复合薄膜 , 微观结构 , 光致发光特性

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