刘红亮
,
陈冷
功能材料
doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2017.02.014
用原子力显微镜(AFM)和X射线衍射(XRD)研究了不同厚度Cu/Co双层膜的表面形貌和微观结构,并用振动样品磁强计(VSM)测量了磁滞回线.实验结果表明,薄膜表面由均匀岛状结构组成,随着Co薄膜厚度增加,"小岛"高度升高,之后部分"小岛"发生合并长大.当Co薄膜厚度为5和15 nm时,Co为fcc结构;当Co薄膜厚度为30 nm时,fcc结构和hcp结构同时存在.此外,随着Co薄膜厚度增加,对应磁滞回线矩形度逐渐变大,并且矫顽力和饱和磁化强度逐渐增大.
关键词:
Cu/Co薄膜
,
微观结构
,
磁学性能
