胡秀琴
,
官文栎
,
牟其善
,
刘希玲
,
马长勤
,
王绪宁
人工晶体学报
doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2000.01.015
首次报道了利用光学显微法和同步辐射白光X射线形貌术对Cr:KTP晶体缺陷的研究结果.光学显微法采用热磷酸作为腐蚀剂,用Opton大型显微镜反射法观察,观测到(100)面和(021)面的位错蚀坑以及(021)面的小角度晶界.用同步辐射白光X射线形貌术作出(001)面、(010)面和(100)面形貌图,从图中可明显观察到生长层、扇形界及位错线.由此得出,Cr:KTP晶体的主要缺陷是位错、生长扇形界、生长层等.
关键词:
Cr:KTP晶体
,
同步辐射白光X射线形貌术
,
缺陷
,
非线性光学晶体
