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金曼 , 杨丽丽 , 夏朝峰
上海金属 doi:10.3969/j.issn.1001-7208.2011.02.007
采用低频力学谱仪对Al-Mg-Si合金和Al-Mg-Si-0.6% Cu合金的内耗进行了研究.结果表明:两种合金的内耗在加热过程先升高后降低.利用TEM对AI-Mg-Si合金和Al-Mg-Si-0.6%Cu合金的微观结构进行观察,显示合金内耗的变化是合金中的析出相和位错相互作用的结果.
关键词: 内耗 , 透射电子显微镜 , Al-Mg-Si合金 , Al-Mg-Si-0.6%Cu合金