李庆鹏
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丁国强
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刘建国
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赫秀娟
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严川伟
腐蚀学报（英文）
以正硅酸乙酯(TEOS)为原料在片状铝粉表面包覆SiO2, 通过扫描电镜(SEM)和X射线光电子能谱仪(XPS)对包覆的铝粉进行表征, 并研究了包覆铝粉对锌铝混合粉的析氢行为的影响.结果表明: SiO2包覆铝粉后可以有效地抑制锌铝混合粉的析氢, 包覆工艺最佳水硅比为10:1; SiO2膜与Al粉间存在Si-O-Al的化学键作用.
关键词:
SiO2包覆
,
Al flake
,
hydrogen evolution
,
n(H2O)/n(SiO2)
