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A:Al2O3(A=Cr, Fe, Ni)晶体生长及其缺陷研究

范修军 , 王越 , 徐宏

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2011.01266

报道了A:Al2O3(A=Cr, Fe, Ni)晶体光学浮区法生长工艺, 研究了旋转速率、生长速率对晶体质量的影响, 制备出了直径6~8 mm、长度为60~80 mm的A:Al2O3晶体. A:Al2O3晶体的生长方向为<001>方向, X射线双晶摇摆曲线表明A:Al2O3晶体具有良好的晶体质量. 通过X射线衍射、扫描电镜、偏光显微镜对晶体中的生长缺陷进行了研究, 结果表明, A:Al2O3晶体的主要缺陷为小角度晶界、包裹体和溶质尾迹. 研究了A:Al2O3晶体的光谱性能, 并对A:Al2O3晶体的介电性能进行了测量, 室温下1000 kHz时A:Al2O3晶体表现出较高的介电系数er(12.1~15.7)和较小的介电损耗tand(0.0020~0.0002).

关键词: A:Al2O3 , single crystal growth , floating zone technique , crystal defects

狄拉克材料CaMnBi2的单晶制备与物理性质研究

何俊宝 , 傅瑜 , 王爱华 , 周大伟 , 邢建莹 , 常清

人工晶体学报

采用高温助溶剂方法制备出各向异性狄拉克材料CaMnBi2的高质量大尺寸单晶样品.综合运用X射线衍射(XRD)、扫描电镜-能量色散X射线光谱仪系统(SEM-EDX)、综合物性测量系统(PPMS)等测试手段对CaMnBi2高质量单晶样品的晶体结构、化学成分、电学、磁学和热学性质进行了系统的研究.结果表明:CaMnBi2的晶体结构是由MnBi(1)四面体层、Ca原子层以及Bi(2)四方格子层构成,它们按照MnBi(1)-Ca-Bi (2)-Ca-MnBi(1)的顺序沿c轴方向堆垛形成“三明治”型层状结构;这些不同的结构层对物理性质有不同的作用,其中Bi(2)四方格子层对电输运性质和狄拉克电子起主要作用,而MnBi(1)层中Mn2+对磁学性质的起着决定作用.这两个功能层的共同作用下该材料具有层状准二维电子系统的典型特征,并且表现出金属反铁磁(TN=270 K)行为.

关键词: 狄拉克材料 , 单晶制备 , 晶体结构 , 物理性质

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