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密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究

程国峰 , 杨传铮 , 黄月鸿

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2008.00199

X射线衍射(XRD)实验发现密堆六方纳米ZnO的hk0、h-k=3n的衍射线, 仅存在微晶宽化, 而h-k=3n±1的衍射线, 无l=偶数、l=奇数的层错选择宽化效应. 为了表征这种纳米ZnO的晶粒大小和层错几率, 提出了分解纳米ZnO微晶-层错二重宽化效应的最小二乘法. 计算结果表明: 密堆六方纳米ZnO的晶粒大小和层错几率与制备方法、原料配比等有关.

关键词: ZnO , crystallite size , stacking fault probability , X-ray diffraction (XRD)