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金属学报
采用相场方法模拟第三相颗粒钉扎的两相耦合的晶粒长大过程, 系统地研究了第三相颗粒体积分数和尺寸大小对两相晶粒长大 过程的影响. 模拟结果表明, 第三相颗粒体积分数越大, 对晶界的钉扎作用越强, 且极限晶粒尺寸越小. 单个第三相颗粒尺寸越大, 对晶界钉扎作用越强. 但当体积分数一定时第三相颗粒尺寸越小时, 颗粒数目会越多, 此时总的钉扎效果会越好, 晶粒极限尺寸也越小. 若晶粒长大系统同时引入两种不同大小的第三相钉扎颗粒, 且两种颗粒所占比例相同时, 钉扎效果最好. 相场方法模拟所得到的二相多晶材料晶粒组织演化规律和晶粒生长指数、晶粒形态、生长动力学和拓扑结构特征与已有实验和理论结果相符合
关键词:
相场模拟
,
grain growth
,
hard particle
,
Zener pinning
