王燕斌
,
王安荣
,
褚武扬
,
肖纪美
金属学报
采用Lange式透射X射线形貌照相法研究了电解充氢导致Fe-3wt-％Si单晶中氢损伤的规律。结果表明:在不加毒化剂的1mol/LH_2SO_4中电解充氢时,不产生氢损伤;在有毒化剂时,即使电流密度很低,也会产生氢损伤。在一定电流密度下产生的氢损伤有一极限大小,并不随充氢时间增加而无限止长大。随电流密度增加,氢损伤尺寸增大,但当电流密度较大时,这种增大不明显。外应力显著促进氢损伤。在含毒化剂时,氢渗透曲线随时间延长而下降是由于产生了氢损伤所致。
关键词:
氢损伤
,
X-ray topography
,
Fe-3 wt-%Si alloy
