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盐析剂——氯化钠存在下稀土含量的准确测定

杜若冰 , 张燕辉 , 陆人杰 , 张婷 , 马恒励 , 肖吉昌

中国稀土学报 doi:10.11785/S1000-4343.20140316

分光光度法(Spectrophotometry)和电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)是常用的测定单一稀土含量的方法.但是萃取稀土过程中通常会加入盐析剂NaCl,萃余水相中大量钠离子所产生的光谱背景严重干扰了稀土含量的测定.考察了NaCl对稀土含量测定的影响,实验结果表明:在基体不匹配的情况下,只有当钠盐浓度低于0.08 mol·L-1时,分光光度法可以准确测定萃余液中单一轻稀土(La,Ce,Pr,Nd)及中稀土(Sm,Eu,Gd)的含量,但不能准确测定重稀土的含量;而使用ICP-AES法,在NaC1浓度为0.001 ~1.0 mol·L-1条件下无法准确测定稀土含量.因此,实验室宜采用分光光度法在基体不匹配的条件下测定轻、中稀土含量,重稀土在基体匹配的条件下用电感耦合等离子体发射光谱法测定.

关键词: 盐析剂 , 氯化钠 , 分光光度法 , 电感耦合等离子体发射光谱法 , 稀土萃余液

SiC粉体预处理对浆料流变性能的影响

赵娟 , 宋丽岑 , 王瑞雨 , 高原 , 刘惠涛

硅酸盐通报

本文采用ICP-AES测定了去离子水洗涤,酸洗和碱洗等SiC粉体预处理过程中金属离子的含量,研究了杂质离子对SiC浆料流变性能的影响.XRD和TEM测试表明:SiC粉体在低浓度酸碱洗涤过程中,晶型和形貌几乎没有发生变化.由ICP-AES定量分析结果可知,随着SiC粉体表面杂质离子的减少,浆料的粘度不断降低,稳定性升高.低浓度HCl溶液去除SiC粉体表面杂质离子的效果最佳,浆料流变性能得到了显著改善.

关键词: 碳化硅 , ICP-AES , 预处理 , 流变性能

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