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压痕诱发GaAs和Si晶体塑性、损伤与断裂

徐永波

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2009.01081

对压痕诱发脆性材料塑性、损伤与断裂研究进行总结, 并结合与之有关学科研究进展予以评述. 主要结果:微压痕诱导硅和砷化镓晶体的纳米和非晶转变, 并发现这一转变的临界应力; 转变过程是由切应力, 并非静水压力控制; 电子辐照诱导非晶晶化, 并发现晶化临界条件; 晶化速率与电流密度有关; 压痕诱发的裂纹尖端不是原子尖的, 其萌生与扩展伴随位错的产生, 并由此引发点阵的畸变, 并产生1~2nm宽非晶带; 裂纹扩展沿非晶带发生, 而非裂端前方原子键相继断裂的结果; 经傅立叶变换和逆变换发现, 裂纹尖端变形显示出各向异性.

关键词: 微压痕 , HRTEM , crystallization and amorphization , crack-tip structure , Fast Fourier Transformation (FFT) and Inverse-Fast Fourier Transformation (IFFT)

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