李忠厚
,
宫学博
,
郭腾腾
,
马芹芹
,
杨迪
表面技术
目的：探讨基片偏压对镁合金Ti/TiN膜层质量的影响。方法利用多弧离子镀技术,在不同偏压条件下,对镁合金先镀Ti再镀TiN,通过SEM观察膜层形貌,通过划痕测定膜基结合性能,通过电化学工作站对比AZ31镁合金与不同偏压镀膜试样的耐蚀性。结果偏压为200 V时,TiN膜层致密均匀且成膜速度快,膜层耐蚀性最好；偏压为200 V时,基体结合最好且膜层较厚,有较好的耐蚀性。结论镀Ti 膜时的偏压对随后镀TiN的质量有着显著的影响,以200 V偏压的工艺镀TiN膜层质量最好,膜层致密,成膜速度快,耐蚀性优良。
关键词:
镁合金AZ31
,
偏压
,
多弧离子镀
,
Ti/TiN膜层质量
余祖孝
腐蚀与防护
采用电化学方法研究了在中性0.25mol·L-1 KCl溶液中,添加剂丙炔醇对AZ31镁合金阳极电化学行为的影响.结果表明,丙炔醇能大幅度抑制AZ31镁合金的腐蚀,并能提高AZ31镁合金的活化程度.当丙炔醇浓度为1.0％时,AZ31镁合金的缓蚀率为45.6％;表面均匀,活化程度高;在-1.40 V(相对SCE,下同)时AZ31镁合金的电流密度为7.97 mA·cm-2,开路电位Eocp负移程度最大(-1.56 V),活化电位Eact负移程度也最大(-1.54 V).
关键词:
镁合金AZ31
,
KCl溶液
,
丙炔醇
,
电化学行为
卢立伟
,
刘天模
,
陈勇
,
吕城龄
材料热处理学报
研究了AZ31镁合金在挤压过程中长条晶粒的形成机理、挤压工艺对形成长条晶粒的影响以及长条状晶粒对室温拉伸变形断裂的影响。为消除长条晶粒,进行了不同工艺条件下的退火处理。结果表明：在挤压比为4.5时,长条状晶粒比较粗大,利用退火处理无法消除;当挤压比提高到10.1时,长条状晶粒比较狭窄,利用退火处理能有效地改善组织均匀性,较好的消除长条晶粒,其平均晶粒尺寸大约为20μm。
关键词:
镁合金AZ31
,
长条状晶粒
,
断裂行为
,
退火处理
崔少贤
,
唐文亭
,
张忠明
,
袁森
兵器材料科学与工程
doi:10.3969/j.issn.1004-244X.2006.02.011
等通道转角挤压(ECAP)是一种制备超细晶粒材料的新技术.为了掌握AZ31镁合金在ECAP过程中的力学变化规律,利用刚塑性有限元技术对AZ31镁合金的等通道转角挤压过程进行了数值模拟,分析了载荷在挤压过程中的变化规律及产生变化的原因.结果表明:AZ31镁合金的ECAP过程大致分为载荷快速增加,载荷缓慢增加,载荷基本稳定三个阶段;载荷峰值随摩擦因数的增大迅速增大,应采取有效的润滑措施减小摩擦从而降低载荷峰值,提高冲头的抗失稳能力;随着摩擦因数的增大,载荷在达到峰值后下降趋势越来越明显.
关键词:
等通道转角挤压(ECAP)
,
数值模拟
,
载荷-行程曲线
,
镁合金AZ31
