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邹科 , 杨东方 , 马向东
材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2008.02.013
铁镍合金粉用正硅酸乙酯(TEOS)改性,采用红外漫反射光谱、透射电镜、扫描电镜、矢量网络分析仪等对改性后的铁镍合金粉结构和性能进行表征.研究结果表明:处理后的铁镍合金粉为有机硅包裹的结构;包覆后铁镍合金粉在 2~18GHz内ε',ε"均降低.在3.2~18GHz内,随着TEOS浓度的增加,μ'先增加后降低.分散处理能有效减少包覆后铁镍合金粉的团聚,进一步降低其介电常数.
关键词: 表面改性 , 铁镍合金粉 , 电磁参数