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钯镍合金电沉积层的XRD研究

李凤凌 , 杨防祖 , 李振良 , 佘沛亮 , 姚士冰 , 周绍民

材料保护 doi:10.3969/j.issn.1001-1560.1999.03.002

利用X-射线衍射技术对钯镍合金镀层的微观结构,特别是晶体的微晶尺寸、晶胞参数、微观应力、择优取向等进行了研究.实验发现,该合金镀层为面心立方的固溶体结构,呈(200)择优取向,晶胞参数随镀层中镍含量的增大而减小,镀层的微晶尺寸及微观应力等随镀层中镍含量的增大而增大.

关键词: 钯镍合金镀层 , 电沉积 , XRD

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