左翼
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郑永男
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周冬梅
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杜恩鹏
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袁大庆
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段晓
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朱升云
原子核物理评论
doi:10.3969/j.issn.1007-4627.2005.01.035
在77-295 K温区和氢浓度0-0.35范围采用正电子湮没寿命测量方法研究了Pd0.75Ag0.25Hx氢化物合金.充氢后正电子湮没寿命谱可以用两个寿命成分表征.短寿命成分τ1不随温度和氢浓度变化, 是自由正电子湮没寿命; 长寿命成分τ2及其相对强度I2不随温度变化, 但随氢浓度的增加分别增大和减小, τ2是氢气泡捕获的正电子湮没寿命, τ2增大和I2减小说明随氢浓度增大氢聚集成的气泡的尺度增大, 而浓度减小.实验结果表明, 氢脆的微观机理是氢气泡致脆.
关键词:
金属氢化物PdAgHx
,
氢气泡
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氢脆
,
正电子湮没寿命
