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超声△法与TOFD法在薄壁电子束焊缝上的检测结果对比分析

史亦韦 , 王乃波 , 卢超

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2012.02.006

采用超声△衍射法和TOFD法对模拟缺陷进行检测,得出了缺陷检测波形图和B/C扫描图.对比分析了超声△衍射法与TOFD法的检测结果.实验表明利用超声△衍射法能够识别近表面垂直表面的面状缺陷,有效地对缺陷进行定位,能够很好地克服表面盲区,对缺陷的检测识别能力不受缺陷方向限制.从检测结果数据可以看出超声△衍射法的检测灵敏度和缺陷识别能力优于TOFD法.

关键词: 超声△法 , TOFD法 , 图像 , 灵敏度