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纳米厚度氮化硼薄膜的场发射特性

顾广瑞 , 李英爱 , 陶艳春 , 何志 , 殷红 , 李卫青 , 赵永年

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2003.01.003

利用射频磁控溅射方法,在n型(100)Si基底上沉积了不同厚度(54~135nm)的纳米氮化硼(BN)薄膜.红外光谱分析表明,BN薄膜结构为六角BN(h-BN)相(1 380cm-1和780cm-1).在超高真空系统中测量了不同膜厚BN薄膜的场发射特性,发现BN薄膜的场发射特性与膜厚关系很大,阈值电场随着厚度的增加而增大.由于BN薄膜和Si基底界面间存在功函数差,使得Si基底中电子转移到BN薄膜的导带,在外电场作用下隧穿BN表面势垒,发射到真空.

关键词: 纳米氮化硼薄膜 , 场发射 , 厚度 , 功函数

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