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O2+离子穿过碳膜引起的前后表面电子发射

虞洋 , 赵永涛 , 王瑜玉 , 王兴 , 程锐 , 周贤明 , 李永峰 , 刘世东 , 雷瑜 , 孙渊博

原子核物理评论 doi:10.11804/NuclPhysRev.31.01.092

测量了入射能为1.9~11.3 keV/u的O2+离子穿过碳膜诱导的前向、后向(分别对应出射表面和入射表面)电子发射产额。实验中,通过改变入射离子的能量和流强,系统地研究了电子能损和离子束流强度对前向、后向电子发射产额的影响。结果表明,在本实验的能量范围内,前向、后向电子发射产额与对应表面的电子能损有近似的正比关系,而与束流强度无关。分析还发现引起后向电子发射的动能阈值约为0.2 keV/u,势能电子发射产额约为1 e-/ion。

关键词: 电子发射 , 电子能损 , 离子束流强度

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