冯达
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申巍
,
李冲
,
吴锴
绝缘材料
针对分压屏接线及杂散阻抗及容抗会使套管雷电波型式试验响应波形产生畸变的问题，通过测量套管电容值及分析电压波形的频谱信息，利用短时傅里叶变化对特定时间段的频谱信息进行分析，判断试验过程中套管是否发生层间击穿现象。结果表明：杂散阻抗会使分压屏两端电压波形在雷电波型式试验中产生畸变，利用短时傅里叶分析处理分压屏电压在不同时段内的频谱可以判断套管有无发生击穿现象，且击穿层数与频谱极值和幅值变化量有定量关系，在击穿层数较小时该方法相比电容值测量更加准确。
关键词:
干式套管
,
分压屏
,
雷电波
,
波形畸变
,
杂散阻抗
,
电路仿真
徐跃
,
黄海云
功能材料与器件学报
本文针对十字形CMOS霍尔器件提出了一种精确的行为性仿真模型.该模型由一个90°旋转对称的无源网络构成,包含4个电流控制的霍尔电压源,12个非线性电阻和8个寄生电容.该行为性模型完全考虑了霍尔器件的各种重要物理效应以及寄生电容和接触电阻的影响,使用Ver-ilog_A语言进行描述,非常适合在Cadence Spectre环境下进行霍尔器件和电路全集成的仿真.使用AMS 0.8 μm CMOS工艺参数对该模型做了电路仿真,仿真结果与实验结果达到了很好的一致性,显示出该模型具有极高的仿真精度同时又无需复杂的计算量.
关键词:
十字形CMOS霍尔器件
,
行为性模型
,
Verilog_A语言
,
电路仿真
