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检索条件：关键词=电性能测试
刘志军
液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20153001.0051
GOA型TFT LCD产品Shorting Bar testing工序烧伤现象严重,针对把根源归结为Shorting Bar Testing工序测试参数电压过高的假设,设计一个Source电压远高于理论测试电压的测试波形,分别以高压值参数和理论值参数对样品进行测试,结果发现两种情况下烧伤概率一样;针...
关键词: OLED , 电性能测试 , 波形测试 , 电压补偿
刘志军 , 侯红兵 , 李金泰 , 詹家豪
液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20153002.0296
常规馈通电压计算原理涉及到 OLED 体的电容值，不同型号 OLED 产品电容值是个变量，为了得到最佳的电容值， OLED 制造企业测试部门需做大量的验证实验。本文直接通过栅极电压上拉使 OLED 体的储存电容产生馈通电压来补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间寄生电容产生的馈通电压，无需测量 OLED ...
