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刘晓东 , 张要强 , 马丽婵 , 郑晓泉
绝缘材料 doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2006.06.012
研究了高能电子束辐照对聚酰亚胺薄膜(PI)试样电气性能的影响.实验发现高能电子束辐照后PI的介电常数减小,电导率增大,电损耗增大.利用原位聚合法把70纳米Al2O3粒子引入到PI薄膜中,对材料进行改性,实验发现改性后PI薄膜抗高能电子束辐射能力得到加强.
关键词: 聚酰亚胺 , 纳米改性 , 电子辐射 , 介电性能
