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H2S薄层液膜下16Mn钢腐蚀的电化学研究

李明齐 , 蔡铎昌 , 何晓英

材料保护 doi:10.3969/j.issn.1001-1560.2006.01.001

利用自行设计的测量金属在薄层液膜下腐蚀的三电极电化学电池,通过极化曲线和交流阻抗技术(EIS)研究了16Mn钢在含H2S薄层液膜下的电化学行为,并与之在大量H2S电解质溶液中的电化学行为进行了比较.结果表明:H2S促进了16Mn钢腐蚀的阴阳极过程;随着H2S浓度的升高,16Mn钢的自腐蚀电位(Ecorr)正移,腐蚀速率逐渐增加,但C(H2S)>2 mmol/L后腐蚀速率不再增加;随薄层液膜酸度增加,Ecorr负移,自腐蚀电流(Jcorr)增大,但pH<4.4后腐蚀速度与酸度无关.16Mn钢在H2S薄层液膜下与在全浸状态下的腐蚀机理可能不同.

关键词: 腐蚀 , 电化学研究 , 16Mn钢 , 薄层液膜 , H2S

局部损伤和不同受力下渗氮套管的耐蚀性能

杨全安 , 姜毅 , 李琼玮

材料保护 doi:10.3969/j.issn.1001-1560.2004.08.015

采用渗氮方法提高钢材耐蚀性能近年来有一定突破,但对J55渗氮管材尚缺乏系统研究.对J55渗氮套管进行了质量检测,并用电化学方法研究了渗氮套管在不同受拉力下和套管渗氮层局部破损情况下的耐蚀性能,结合应力腐蚀试验和三点弯曲试验的数据,提出了渗氮套管的适用条件:井深不大于1 700m,弯曲度小于5°/30m,为渗氮套管下井试验提供了依据.

关键词: 腐蚀 , J55油井套管 , 电化学研究 , 耐蚀性能

Kelvin探针测量技术在电化学研究中的应用进展

安英辉 , 董超芳 , 肖葵 , 李晓刚

腐蚀学报(英文) doi:10.3969/j.issn.1002-6495.2008.06.013

Kelvin探针测量技术被引入到腐蚀研究领域后,成为研究薄液膜和有机涂层下金属腐蚀的有力电化学工具和手段.Kelvin探针技术与原子力显微镜技术相结合产生出扫描Kelvin探针力显微镜,使Kelvin技术在材料研究和腐蚀领域得到了更好的应用.本文简述了Kelvin探针技术的测量原理和装置,重点综述了近十年来该技术在电化学研究中的应用进展.

关键词: Kelvin探针测量技术 , 电化学研究

电弧法制备的Cr纳米粉与Ni共沉积行为的电化学研究

宗广霞 , 彭晓

腐蚀学报(英文)

采用电弧法分别在高低两种H2分压下制备了Cr纳米粉(标记为CrⅠ:和CrⅡ).在电解液中浸泡过的两种Cr纳米粉的XPS分析结果表明,CrⅡ:纳米粉表面在电解液中形成的Cr2O3膜比CrⅠ薄.电化学分析表明,Cru纳米粉表面更易吸附Cl-,导致其更容易与Ni共电沉积,这是因为表面氧化膜较薄的CrⅡ粉,氧化膜可被表面吸附的Cl-点蚀而穿透,导电性增强,使得Ni2+更容易在其表面上还原,快速将CrⅡ嵌入共电沉积层中.

关键词: Cr纳米粉 , 电化学研究 , 共电沉积 , 电弧法

电弧法制备的Cr纳米粉与Ni共沉积行为的电化学研究

宗广霞 , 彭晓

腐蚀学报(英文)

采用电弧法分别在高低两种H2分压下制备了Cr纳米粉(标记为CrI和CrII. 在电解液中浸泡过的两种Cr纳米粉的XPS分析结果表明, CrII纳米粉表面在电解液中形成的Cr2O3膜比CrI薄. 电化学分析表明, CrII纳米粉表面更易吸附Cl-, 导致其更容易与Ni共电沉积, 这是因为表面氧化膜较薄的CrII粉, 氧化膜可被表面吸附的Cl-点蚀而穿透, 导电性增强, 使得Ni2+更容易在其表面上还原, 快速将CrII嵌入共电沉积层中.

关键词: Cr纳米粉 , electrochemical analysis , codeposition , arc plasma

Kelvin探针测量技术在电化学研究中的应用进展

安英辉董超芳肖葵李晓刚

腐蚀学报(英文)

    Kelvin探针测量技术被引入到腐蚀研究领域后,成为研究薄液膜和有机涂层下金属腐蚀的有力电化学工具和手段.Kelvin探针技术与原子力显微镜技术相结合产生出扫描Kelvin探针力显微镜,使Kelvin技术在材料研究和腐蚀领域得到了更好的应用.本文简述了Kelvin 探针技术的测量原理和装置,重点综述了近十年来该技术在电化学研究中的应用进展.

关键词: Kelvin探针测量技术 , electrochemical research

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