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VHF-PECVD制备微晶硅薄膜及其微结构表征研究

张晓丹 , 高艳涛 , 赵颖 , 朱锋 , 魏长春 , 孙建 , 耿新华 , 熊绍珍

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2005.03.020

采用VHF-PECVD技术制备了系列不同衬底温度的硅薄膜.运用微区拉曼散射(Micro-Raman)和X射线衍射(XRD)对薄膜进行了结构方面的测试分析.Micro-Raman测试结果表明:随衬底温度的升高,薄膜逐渐由非晶向微晶过渡,晶化率(Xc)逐渐增大.XRD的结果显示样品的择优取向随衬底温度的升高而变化,(220)方向计算得出样品的晶粒尺寸逐渐变大.

关键词: 甚高频等离子体增强化学气相沉积(VHF-PECVD) , 微晶硅 , 衬底温度

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