沈哲敏
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孙克宁
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严琰
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周晓亮
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张乃庆
功能材料
采用Ag-CuO为封接材料对连接体SUS430和电池片阳极Ni-YSZ在空气中进行封接,通过对泄露率的测定、扫描电镜、能谱分析等方法对封接的气密性、相容性及热循环性能进行了研究。结果表明Ag-CuO材料可实现对连接体与电池片的有效封接,且当材料中的Cu含量为6%(摩尔分数)时模拟泄露率最低,〈0.001mL/(min.cm),封接材料在经历10次热循环后的气体泄露率无增大,能谱分析表明在连接体/Ag-CuO材料界面没有发生元素扩散现象。
关键词:
Ag-CuO
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SOFC
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封接
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泄露率