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孙旭东 , 曾敏峰 , 鲍高强 , 郑厚天 , 刘维民 , 齐陈泽
膜科学与技术 doi:10.3969/j.issn.1007-8924.2006.06.016
介绍了正电子湮没技术在高分子薄膜研究中的最新进展.常规的正电子湮没技术和慢正电子湮没技术,可以准确地探测高分子薄膜微观缺陷(自由体积)尺寸、分数、浓度、深度分布,该测试技术将在研究各种高分子薄膜的微结构-性能关系、表面效应、界面效应等方面发挥积极的作用.
关键词: 正电子湮没寿命谱 , 正电子素 , 自由体积 , 高分子膜
