孙旭东
,
曾敏峰
,
鲍高强
,
郑厚天
,
刘维民
,
齐陈泽
膜科学与技术
doi:10.3969/j.issn.1007-8924.2006.06.016
介绍了正电子湮没技术在高分子薄膜研究中的最新进展.常规的正电子湮没技术和慢正电子湮没技术,可以准确地探测高分子薄膜微观缺陷(自由体积)尺寸、分数、浓度、深度分布,该测试技术将在研究各种高分子薄膜的微结构-性能关系、表面效应、界面效应等方面发挥积极的作用.
关键词:
正电子湮没寿命谱
,
正电子素
,
自由体积
,
高分子膜
廖霞
,
张琼文
,
何汀
,
安竹
,
杨其
,
李光宪
高分子材料科学与工程
聚合物的晶区堆砌密度、无定形区自由体积的尺寸和数量、晶区-非晶区的界面等微观结构,对其宏观性能,如渗透性能、力学性能、松弛行为等有重要影响.正电子湮没寿命谱技术是一种强有力的微观结构探测与表征技术,能够灵敏有效地探测聚合物的晶区堆砌密度、无定形区自由体积以及两相界面等信息,从而提供了一种直接、简单的研究聚合物微观结构的途径.文中介绍了该技术的基本原理和应用理论,综述了该技术在聚合物研究领域的应用,如:聚合物本征特性与自由体积之间的关系,应力、辐照、外界压力、物理老化等外界因素对聚合物微观结构的影响,以及聚合物共混物、复合材料的相容性和界面特性等.最后总结了正电子湮没寿命谱技术在聚合物微观结构研究中存在的问题.
关键词:
正电子湮没寿命谱
,
聚合物
,
自由体积
,
微观结构
陈奇
绝缘材料
doi:10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2016.04.002
综述了复合绝缘子的发展和应用情况,介绍了复合绝缘子投入运行后在外力作用下的老化机理以及分析方法,重点阐述了当前应用较多的复合绝缘子老化评估方法,包括热刺激电流、傅里叶红外光谱分析、核磁共振以及正电子湮没寿命谱等,并对其相关研究成果进行了综述.热刺激电流法、傅里叶红外光谱以及核磁共振等可以从陷阱深度变化、化学变化基团以及弛豫时间等对复合绝缘子老化程度进行准确评估.正电子湮没寿命谱作为电力领域一种新的微观结构检测方法,可对复合绝缘子老化前后自由体积变化进行精确测试.因此在以后研究中可将正电子湮灭与上述3种方法联用,从微观的角度深入认识复合绝缘子的老化过程.
关键词:
复合绝缘子
,
老化
,
热刺激去极化电流
,
傅里叶红外光谱
,
核磁共振
,
正电子湮没寿命谱
