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薄膜厚度和溅射功率对有机衬底上ZnO∶Ga薄膜应力的影响

张哲浩 , 吕建国 , 江庆军 , 叶志镇

材料科学与工程学报 doi:10.14136/j.cnki.issn 1673-2812.2016.03.002

在室温(RT)下,采用直流(DC)磁控溅射在聚碳酸酯(PC)衬底上制备Ga掺杂ZnO(GZO)薄膜.通过X射线衍射(XRD)与基片曲率方法研究薄膜的残余应力.提出并讨论了厚度和溅射功率对GZO薄膜的应力影响并证实所有薄膜的应力均是压缩应力.研究表明随着薄膜厚度的增加,外应力可以得到充分释放.而溅射功率的变化可以改变GZO薄膜的应力和晶粒尺寸.研究表明溅射功率在140W的条件下制备的厚度225nm薄膜具有最大的晶粒尺寸和最小的压缩应力.结果表明改变溅射参数,比如溅射功率和薄膜厚度,GZO薄膜能够有效地释放应力.

关键词: ZnO∶Ga薄膜 , 应力 , 基片曲率法 , 直流磁控溅射 , 有机衬底

射频磁控溅射有机衬底SnO2∶Sb透明导电膜性能的研究

张士勇 , 马瑾 , 刘晓梅 , 马洪磊 , 郝晓涛

功能材料

采用射频磁控溅射法在聚丙烯己二酯有机薄膜(polypropylene adipate, PPA)衬底上低温制备出锑掺杂的氧化锡(SnO2∶Sb)透明导电膜.研究了薄膜的厚度效应对SnO2∶Sb薄膜的结构、光学和电学特性的影响.制备薄膜为多晶膜,并且保持了纯二氧化锡的金红石结构.载流子浓度和迁移率随着薄膜厚度的增加而增大,电阻率随着薄膜厚度的增加而减小,最低电阻率为 2×10-3Ω*cm.

关键词: 有机衬底 , SnO2∶Sb透明导电膜 , 光电性质

磁控溅射有机衬底ZnO:SnO2透明导电膜的结构和光电特性

黄树来 , 马瑾 , 计峰 , 余旭浒 , 王玉恒 , 马洪磊

功能材料

采用磁控溅射技术在有机衬底上低温制备出具有低电阻率和良好附着性的ZnO∶SnO透明导电膜.研究了制备ZnO∶SnO薄膜的结构、成分和光电性质.制备薄膜为非晶结构,有机衬底ZnO∶SnO透明导电膜的最低电阻率约10-2Ω*cm,可见光平均透过率>82%.薄膜中的氧偏离理想化学配比,氧空位是薄膜中载流子的主要来源.

关键词: 有机衬底 , ZnO∶SnO薄膜 , 磁控溅射

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