仲飞
,
刘彭义
,
段光凤
液晶与显示
doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2005.06.007
为了改善有机发光器件(OLEDs)的性能,在0～600 ℃不同温度下对ITO透明导电玻璃进行了退火处理.SEM观察到随退火温度的升高,ITO表面粗糙度增加;四探针电阻测试结果显示,在300 ℃以上温度退火后ITO表面电阻率有明显增加.用退火前后的ITO玻璃作为阳极制备了OLEDs,器件结构为ITO/TPD/Alq3/Al,比较器件的电流密度-电压特性曲线测试结果表明,ITO薄膜的热处理温度对OLEDs性能有显著的影响.
关键词:
ITO
,
有机发光器件
,
退火
,
表面处理
,
性能
侯林涛
,
王平
,
王标
,
梁振锴
,
刘彭义
,
吴冰
,
张秀菊
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20112602.0142
采用Cs2CO3:Alq3/MoO3作电荷产生层,制备出高效双单元串联型叠层有机发光器件.双单元叠层有机发光器件发光性能受电荷产生层MoO3的厚度影响很大.当MoO3厚度为30 nm时,叠层器件表现出最好的器件性能,最大电流效率达到14.5 cd/A.在相当宽的低电流密度范围内,30 nm MoO3叠层器件的电流效率是对比单层器件电流效率的2倍以上;但高电流密度下,叠层器件电流效率下降较快.叠层发光器件性能的提高与中间电荷产生层向上下两个发光单元有效的电子、空穴注入有关.
关键词:
有机发光器件
,
电荷产生层
,
叠层
,
三氧化钼
,
碳酸铯
王光华
,
季华夏
,
张筱丹
,
段瑜
,
孙浩
,
杨炜平
,
李牧词
,
金景一
,
万锐敏
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20153003.0437
为了分析不同阴极耦合层对顶发射白光 OLED 器件光电性能的影响，数值计算了半透明阴极组成的多层膜系(ETL/EIL/Mg：Ag/折射率匹配层)的透过率和损耗；同时，采用共阴极结构设计制备了顶发射白光 OLED器件，并对不同折射率匹配层制备的顶发射白光 OLED器件的光电特性进行了研究。结果表明：采用相同厚度 LiF 和Al2 O3薄膜作为阴极耦合层时，多层膜系光学透过率和损耗曲线存在较大差异；在20 mA/cm2电流密度下，随着观测角度的增大，采用LiF＋Al2 O3双层折射率匹配层制备的器件电致发光谱峰位发生蓝移，但在整个视角内，器件的色坐标均稳定在白光等能点附近，这表明顶发射白光器件的色坐标可以通过折射率匹配层调节，使得器件在较大视角范围均能实现白光发射。
关键词:
有机发光器件
,
顶部发光
,
转移矩阵
,
光萃取层
欧清东
,
唐建新
中国材料进展
doi:10.7502/j.issn.1674-3962.2016.08.07
有机发光器件已经在全彩显示屏、可穿戴设备以及环境友好的室内照明领域获得了越来越多的关注。近年来,材料设计、器件结构以及制备工艺的革新,推动OLED器件性能在大面积、高效率、长寿命和高显色指数方面取得了一系列突破性进展。光学耦合效率是影响OLED器件中光电转换过程的关键因素之一,如何调控光学耦合、避免器件内部的光子流失、提高出光效率,对于发展高效率、高稳定的OLED技术具有重要意义。本文将围绕光学调控技术在波长依赖性、出光角度敏感性以及制备工艺兼容性方面,系统分析OLED器件中光学损耗机制,综述近年来国内外在OLED微纳结构光学调控的研究进展,并介绍最新发展的软纳米压印仿生微纳结构光学耦合调控方法。此光调控技术实现了绿光OLED器件效率达到366 cd·A-1、白光OLED效率达到123.4 lm·W-1、柔性白光OLED效率达到106 lm·W-1,为新型OLED的光学调控提供了新思路。
关键词:
有机发光器件
,
光学调控
,
光损耗模型
,
光取出
,
软纳米压印
黄卫东
,
王旭洪
,
盛玫
,
徐立强
,
罗乐
,
冯涛
,
王曦
,
张富民
,
邹世昌
功能材料与器件学报
doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2003.02.015
利用等离子体化学气相沉积( PECVD)技术 ,采用不同的沉积条件 (20～ 180℃的基板温度范 围和 10～ 30W的射频功率 )制备了氮化硅薄膜,研究了沉积条件对氮化硅薄膜性质和防水性能的 影响.实验发现随着基板温度的增加 ,氮化硅薄膜的密度、折射率和 Si/N比相应增加 ,而沉积速 率和 H含量相应减少 ;随着射频功率的增加 ,氮化硅薄膜的沉积速率、密度、折射率和 Si/N比相 应增加 ,而 H含量相应减少.水汽渗透实验发现即使基板温度降低为 50℃,所沉积的氮化硅薄膜 仍然具有良好的防水性能.实验结果表明低温氮化硅薄膜可以有效地应用于有机发光器件( OLED) 的封装.
关键词:
氮化硅薄膜
,
有机发光器件
,
封装
刘健
,
谢文法
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20132801.0132
为方便对OLED器件的各项性能进行测试,研发了一种OLED器件光电性能集成测试系统,实现了在同一个软件下的OLED器件的电压、电流、亮度、光谱、色坐标和寿命等特性的集成测试.介绍了计算机与各测试设备的通信方法,通过计算机控制测量仪器对OLED器件进行测量.使用了Microsoft Visual 2005开发工具,利用MFC(Microsoft Foundation Classes)开发出了图形用户界面下的应用程序.利用TeeChart(西班牙Steema公司研发的图表控件)控件实现了OLED器件性能特性曲线的实时动态显示,并能够对不同器件的测试结果进行性能曲线的对比.编写了色坐标助手软件,实现对测试软件测试的光谱数据的分析显示功能.
关键词:
有机发光器件
,
集成系统
,
器件测试
