钟明峰
,
苏达根
,
庄严
,
陈志雄
无机材料学报
doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2005.06.017
研究了低温烧结多层片式ZnO压敏电阻的Pd-Ag内电极中Ag扩散对电性能的影响.发现当含Ag量不超过90%时,仍具有较好的电性能;但含Ag量再继续增加,电性能逐渐变差,内电极为纯Ag时,电性能严重恶化.反映晶界势垒电容的电容量随含Ag量的增加而减小.伏安特性和复数阻抗分析表明,随着内电极中含Ag量增加,Ag扩散进入ZnO晶格加剧,降低了施主浓度,导致ZnO晶粒电阻过分增大,而使多层片式ZnO压敏电阻的电性能劣化.
关键词:
多层压敏电阻器
,
低温烧结
,
银扩散
,
晶粒电阻
,
电性能
