赵志明
,
王志光
,
宋银
,
金运范
,
孙友梅
原子核物理评论
doi:10.3969/j.issn.1007-4627.2006.02.024
先用120 keV的碳离子注入非晶二氧化硅a:SiO2薄膜, 再用能量为1 754 MeV 的 Xe离子辐照.注碳量为5.0×1016-8.6×1017 ion/cm2, Xe离子辐照剂量为1.0×1011和5.0×1011 ion/cm2. 辐照后的样品中形成的新结构用显微傅立叶变换红外光谱仪进行测试分析.结果表明, Xe 离子辐照引起了注碳a:SiO2中Si-C, C-C, Si-O-C键以及CO和CO2分子的形成与演化.在注碳量较高时, Xe离子辐照在样品中产生了大量的Si-C键.与注入未辐照和辐照的低注碳量样品比较, 增强的Si-C键的形成, 预示着辐照可引起注碳a:SiO2样品中的SiC结构相变.
关键词:
离子注入
,
高能离子辐照
,
a:SiO2
,
新结构
周华杰
,
徐秋霞
功能材料与器件学报
doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2008.06.002
利用三维模拟软件Davinci对体硅FinFET器件进行了详细的模拟.模拟结果显示体硅Fin-FET器件能够有效的抑止短沟道效应,具有驱动电流大、散热好、成本低等优点.为了获得好的亚阚值特性,Fin的厚度要比较薄,同时Fin的高度不能太低,以保持足够的高度来抑止短沟道效应.沟道可以采用低掺杂或未掺杂设计,从而减少沟道内杂质对载流子的散射作用和杂质涨落效应对器件性能的影响.另外,为了获得合适的器件阈值电压,体硅FinFET器件应当采用功函数在中间带隙附近的材料做栅电极,同时采用适当的功函数调节方法来获得合适的阈值电压.
关键词:
体硅
,
FinFET
,
新结构
