王春香
,
孙志
,
陈丽梅
,
陈佰树
材料科学与工程学报
为了研究电介质材料在微纳米尺度下表面电荷产生的原因,为纳米电介质材料的发展提供实验分析基础,本文利用电场力显微镜(Electrostatic Force Microscope,EFM)在微纳米尺度下对聚酰亚胺薄膜表面电荷的起因及特性进行了研究.研究表明:采用导电探针施加偏置电压,摩擦接触聚酰亚胺薄膜表面,在微纳米区域内可产生稳定的电荷分布;薄膜的接触电势差约为-4.0V;负电压更易在聚酰亚胺表面注入电荷;针尖运动速度对聚酰亚胺表面电荷的产生影响并不显著.
关键词:
电场力显微镜
,
表面电荷
,
聚酰亚胺
,
接触电势差
文尚胜
,
范广涵
,
廖常俊
,
刘颂豪
量子电子学报
doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2001.03.020
根据电化学C-V测量AlGaInP外延片获得的载流子浓度深度分布数据,以及其LED外延片封装后的工作电压,计算了其中N+-N与P+-P两种同型结的接触电势差,指出调制掺杂同型结的掺杂浓度分布是影响LED工作电压的另一大因素,并提出了进一步降低LED工作电压的有效措施.
关键词:
调制掺杂
,
同型结
,
接触电势差
,
高亮度发光二极管
